HAST高加速應(yīng)力測(cè)試儀通過測(cè)定的磁導(dǎo)率來計(jì)算殘余應(yīng)力的大小和方向，特別適合不允許做破壞性檢測(cè)的產(chǎn)品使用；進(jìn)行各種材料和結(jié)構(gòu)的殘余應(yīng)力分析和研究，還可作為在靜力強(qiáng)度研究中測(cè)量結(jié)構(gòu)及材料任意點(diǎn)變形的應(yīng)力分析儀器。如果配用相應(yīng)的傳感器，也可以測(cè)量力、壓力、扭矩、位移和溫度等物理量。

 

　　HAST高加速應(yīng)力測(cè)試儀以計(jì)算機(jī)為中央微處理機(jī)，采用高精度測(cè)量放大器、數(shù)據(jù)采集和處理器，測(cè)量中無需調(diào)零，可直接測(cè)出殘余應(yīng)力值的大小及方向，實(shí)現(xiàn)了殘余應(yīng)力測(cè)量的自動(dòng)化。

 

　　HAST即高加速應(yīng)力測(cè)試，是通過對(duì)樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實(shí)現(xiàn)對(duì)產(chǎn)品加速老化的一種試驗(yàn)方法。廣泛用于PCB、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)，用于評(píng)估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

 

　　高加速老化測(cè)試是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

 

　　相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試，如85°C/85％RH，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期，節(jié)約時(shí)間成本。

 

　　HAST高加速老化測(cè)試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測(cè)試（如85C/85％RH－1000小時(shí)）的快速有效替代方案。